電能表高溫老化房主要功能：為了達到滿意的合格率，幾乎所有產(chǎn)品在出廠前都要先藉由電能表老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時間的條件下提高其效率?本文介紹在老化過程中進行功能測試的新方案，以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時間問題。
電能表高溫老化房在半導體業(yè)界，器件的老化問題一直存在各種爭論。像其它產(chǎn)品一樣，半導體隨時可能因為各種原因而出現(xiàn)故障，電能表老化就是藉由讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內出現(xiàn)，避免在使用早期發(fā)生故障。如果不藉由老化，很多半導體成品由于器件和制造制程復雜性等原因在使用中會產(chǎn)生很多問題。
在開始使用后的幾小時到幾天之內出現(xiàn)的缺陷(取決于制造制程的成熟程度和器件總體結構)稱為早期故障，電能表老化之后的器件基本上要求100%消除由這段時間造成的故障。準確確定老化時間的唯一方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統(tǒng)計數(shù)據(jù)。
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